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产(chan)品详情
  • 产品名称:温度冲击快速温变试验箱

  • 产品型号:SER
  • 产品厂商:赛思
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简单介绍:
温度冲击快速温变试验箱对不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。
详情介绍:

温度冲击(ji)快速温变试验箱 特 点(dian):

1、可执行AMP(等均温变)、三(san)箱冲(chong)击(ji)(TC)、两(liang)箱冲击(TS)、高温(wen)储存、低温(wen)储存功(gong)能;

2、等均温(wen)速(su)率赛思可设定范围5℃~30/min(40/min)

3、满足无铅(qian)制程(cheng)、无铅(qian)焊(han)锡(xi)、锡(xi)须(xu)(晶须(xu))DELL D4559MOTOIEC-60068-2-14NBJESC22-A14CIPC-9701...等试验要求;

4、赛(sai)思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现(xian)低(di)温节能运(yun)行;

5、除霜(shuang)周期(qi)三天除霜(shuang)一次(ci),每次(ci)只需1小时完成;

6、通信(xin)配置RS232接口和(he)USB储存曲线(xian)下载功能;

7、感(gan)测(ce)器放(fang)置测(ce)试区出(回)风口赛(sai)思设计符合实验有(you)效性;

8、机台多处报(bao)警监测,配置无线远程(cheng)报(bao)警功能;

温度冲击快(kuai)速(su)温变(bian)试验箱 节能控制方(fang)式:

制(zhi)冷压缩机启停控制(zhi)温度(du)(温度(du)波动大(da)、严重影响(xiang)压缩机寿命(ming),已淘(tao)汰(tai)的技(ji)术)制(zhi)冷压缩机恒定运(yun)行+加(jia)热PID控(kong)制(导致制冷量(liang)与加热相抵消实现温度动(dong)态平(ping)衡,浪费了大量(liang)的电能)新型PWM冷控(kong)制技术赛思实现低(di)温节能运(yun)行:低(di)温工作(zuo)状态(tai),加(jia)热器(qi)不(bu)参与(yu)工作(zuo),通过PWM技术控制调节制冷(leng)机组(zu)制冷(leng)剂(ji)流(liu)量(liang)和流(liu)向(xiang),对制冷(leng)管(guan)(guan)道(dao)、冷(leng)旁通(tong)管(guan)(guan)道(dao)、热旁通(tong)管(guan)(guan)道(dao)三向(xiang)流(liu)量(liang)调节,实现对工作室温(wen)度的自(zi)动恒定(ding)。此方式(shi)在(zai)低(di)温(wen)工况下,可实现降低(di)40%的能耗。 

温度冲(chong)击快速温变试验箱(xiang) 标(biao)准(zhun): 

无(wu)铅制程、无(wu)铅焊(han)锡、锡须(xu)(晶(jing)须(xu))DELL D4559MOTOIEC-60068-2-14NBJESC22-A14CIPC-9701...等(deng)试验要求。

产品&规(gui)范

厂商(shang)名称

高温

低温

温变率(lv)

循环数

循环时(shi)间(jian)

备(bei)注

MIL-STD-2164GJB-1032-90
电(dian)子(zi)产品(pin)应(ying)力(li)筛选

——

工作极(ji)限温(wen)度

工作极(ji)限温(wen)度

5/min

1012

3h20min

——

MIL-344A-4-16
电子设(she)备环境应力筛选

设备或系统

71

-54

5/min

10

——

——

MIL-2164A-19
电子设备环境应力(li)筛选方法

——

工作极限温度

工作(zuo)极限(xian)温度(du)

10/min

10

——

驻留时间为内(nei)部达到指定温(wen)度10℃时

NABMAT-9492
美军(jun)海军(jun)制造筛选

设备或系统(tong)

55

-53

15/min

10

——

驻留时(shi)间为内部达到(dao)指定温度5℃时

GJB/Z34-5.1.6
电(dian)子产品定量环(huan)境(jing)应力筛选指南

组件

85

-55

15/min

25

——

达到(dao)温度(du)稳定(ding)的时间

GJB/Z34-5.1.6
电(dian)子产品定(ding)量(liang)环境(jing)应力筛选指南(nan)

设(she)备或系统

70

-55

5/min

10

——

达(da)到温度稳(wen)定(ding)的时间

笔记本电脑

主板厂商

85

-40

15/min

——

——

——


TSR(斜(xie)率(lv)可控制)[5℃~30 /min]

30/min

电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电(dian)容温度循环(huan) MOTOROLA压力传感器温度循环试验

28/min

LED汽车照明(ming)灯

25/min

PCB的产品合格(ge)试(shi)验、测试(shi)Sn-Ag焊剂在(zai)PCB疲劳效应

24/min

光(guang)纤连接(jie)头

20/min

IPC9701 、覆晶技术的极端温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环(huan)试验 PCB暴(bao)露在外界影(ying)响的ESS 测试方(fang)法、DELL计(ji)算机系统(tong)&端子(zi)、改(gai)进导通(tong)孔系统信号 比较IC包装(zhuang)的热量循环和SnPb焊接、温度循环(huan)斜率对(dui)焊锡的疲劳寿命

 

17/min

MOTO

15/min

IEC 6074925JEDEC JESD22-A104BMIL DELL液(ye)晶(jing)显示器 电子组件温度循环(huan)测试(家电、计算机、通(tong)讯(xun)、民(min)用(yong)航空器、工(gong)业(ye)及交通(tong)工(gong)具、 汽车引擎盖下环境)

11/min

无铅CSP产品温度循环(huan)测(ce)试(shi)、芯片(pian)级封(feng)装可靠度试(shi)验(WLCSP) IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10/min

通用汽车(che)、 JEDEC JESD22-A104B-JGR-1221-CORE CR200315 MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试

5/min

 

锡须温度(du)循环试验

温(wen)度冲(chong)击快速(su)温变试验箱 技术规格:

型号

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

内(nei)箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺(chi)寸(cun)
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

温(wen)度范(fan)围

-80.00℃~+200.00

低(di)温冲击范围

-10.00℃~-40//-55//-65.00

高温冲击范围

+60.00℃~+150.00

时(shi)间设(she)定范围

0 hour 1 min 9999 hour 59 min/segment

温度波动度

1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

温度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

温(wen)度均(jun)匀度

2.00℃以内

温变速率(斜率)

+5℃~+30/min(+40)

温变(bian)范围

-55℃~+85//+125

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